【普樂斯】AOI設(shè)備-AOI光學自動檢測設(shè)備-Wafer AOI系列
品牌:普樂斯
名稱:AOI設(shè)備-AOI光學自動檢測設(shè)備-Wafer AOI系列
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產(chǎn)品特點
1、支持4/6/8英寸晶圓及切割環(huán)
2、2500萬像素分辨率,AI深度神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)加持
3、自動光學對焦、位置矯正、物鏡切換
4、簡易程式制作,減輕操作人員負擔
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產(chǎn)品參數(shù)
型號 | Wafer AOI系列 |
測試對象 | 支持4/6/8英寸晶圓及切割環(huán) |
載臺 | 微孔陶瓷X/Y/R |
相機像素 | 2500萬像素高分辨率 |
可檢測平面 | AI深度神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)加持 |
顯微鏡光學系統(tǒng) | 5輪物鏡轉(zhuǎn)換器,配備2X,5X,10X,20X顯微物鏡 |
光學模式 | 自動光學對焦,自動位置矯正,自動物鏡切換 |
計算效率 | 多服務器分布式計算提速 |
控制方式 | 簡易程式制作,減輕操作人員負擔 |
圖像系統(tǒng) | 彩色圖像Review系統(tǒng) |
擴展升級 | 擴展兼容12英寸晶圓及切割環(huán) |
注:以上參數(shù)僅供參考,本公司可能對相關(guān)產(chǎn)品參數(shù)進行調(diào)整,如有變動,恕不再另行通知。若有不明處,歡迎來電詢問。
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工作原理
AOI檢測技術(shù)應運而生的背景是電子元件集成度與精細化程度高,檢測速度與效率更高,檢測零缺陷的發(fā)展需求,其最大優(yōu)點是節(jié)省人力,降低成本,提高生產(chǎn)效率, 統(tǒng)一檢測標準和排除人為因素干擾,保證了檢測結(jié)果的穩(wěn)定性,可重復性和準確性,及時發(fā)現(xiàn)產(chǎn)品的不良,確保出貨質(zhì)量。
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應用領(lǐng)域
適用于晶圓后道工序外觀檢測
精準檢測晶圓圖形/蝕刻不良、崩邊/缺邊、劃傷/切割破損、異物、破損、臟污等缺陷
快速反應,專業(yè)配合,精心打造服務生態(tài)鏈
1年質(zhì)保,終身維護,提供配套服務
承諾到達現(xiàn)場的時限:昆山4小時,蘇州8小時,江浙滬24小時,其他區(qū)域48小時
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榮譽資質(zhì)
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